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OLED发光效率测量系统

发布者::admin  发布时间: :2019-11-01 14:58  浏览次数: :
产品介绍:
详细说明:

我公司推出OLED光谱性能测试系统,OLED发射光谱测量系统,OLED光谱分析仪,OLED光电性能测试系统(IVL曲线,外量子效率EQE),OLED载流子迁移率测量系统、光电性能评估系统以及软件模拟研发系统,为广大科研工作者和研发机构提供了有力的测试工具。

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应用:
   有机发光器件OLED
   量子点LED
   钙钛矿LED等

主要测试功能:
  
OLED效率测量/EQE测量,功率效率Lm/W 和电流效率 Cd/A;
   发射角度-光谱测量;
   光谱&颜色测量@发射角;
   CIE xyY和显色指数CRI;
   可视角测量;
   IVL(电流—电压—亮度)测量;
   PL光致发光和EL电致发光测量;
   p,s极性测量;

主要技术规格:
   角度范围:-85°~+85°;
   光谱范围:360nm~880nm,分辨率1.2nm;

 

 


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