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产品介绍:

光谱响应/量子效率量测仪

发布者::admin  发布时间: :2013-07-10 19:03  浏览次数: :
产品介绍:
详细说明:

 CCD 或CMOS影像感测组件量子效率/光谱响应量测。

产品特色
  1. 可量测单一像素点的量子效率。
  2. 可量测全数组像素量子效率。
  3. 可产生各种所需单色光均匀光源,自动化校正各单色光、特定单色光入射光子数。
  4. 可量测CRA特性(选配)
  5. 软件可配合用户需求修改(选配)。
  6. 为全自动化设计,操作简易。
系统优势:
*QE-IS系统采用光焱科技研发多年的单色光均光系统具备下列多项优势:
*高均匀度
*可产生高均匀度的单色光光斑,在10x10mm2面积内均匀度可以>99%,在20x20mm2面积内仍可维持在>98%。与积分球系统相较,具有更佳的均匀度表现。
*高光强度、高讯噪比
*QE-IS高效率均光系统,以550nm单色光为例,在QE-IS系统光均面的光强度可>5 uW/cm2,相较于积分球系统的单色光强仅1x10-8 uW/cm2,两者差距千万倍,QE-IS系统量测具备绝佳的讯噪比,可精确测出感光组件的量子效率等相关光学特性。 
*可作单像素QE量测
*因QE-IS单色光强度足够(5 uW/cm2@550nm),打在1 um的像素单元,产生的光电流约在20 pA,相较于积分球系统产生的单一像素光电流在sub-fA以下,QE-IS系统可直接用于量测数组感光组件上,任何单一像素的量子效率。 
*可作全数组像素QE量测
*除单一像素量测,QE-IS可整合或是被整合于使用者自行开发的感光组件的数字电路讯号,以量测全数组像素QE。 
*可作CRA量测
*QE-IS的均匀单色光发散角度< 5度,相较积分球的发散角度 >90度,搭配选配的旋转平台,即可量测CRA(Chief Ray Angle)特性。无需额外添购系统,方便整体的量测。

QE-IS與傳統積分球系統的特性比較表


项目 QE-IS 光学系统 传统积分球系统
光均面均匀度
(10 mm x 10 mm)
> 99 % > 99%
光均面位置 距均光系统出口300 mm 积分球开口处
光均面光强度 > 5 uW/cm2 10-8 uW/cm2 (1米积分球)
单像素QE量测 可(光强足够) 否(光强度过低)
发散角度 (半角) < 5度 > 90度
可否量测CRA
 
产品规格
  1. 1. 适用影像组件尺寸: 1/4"、1/3"、1/2"、2/3"、1"
    2. 单色光光谱范围: 350~1100 nm (可扩充)
    3. 电流分辨率: < 1pA (一般), 电流计最小解析能力: 10 fA , 5-1/2 digit resolution
    4. 均匀光源规格: 10 mm x 10 mm 
    5. 光均匀度> 99 % 
    6. 单色光源角度: < 5° (半角)
项目

指标及说明

连续光源系统

75 W 氙灯电源供应器 
不稳定度:  0.5 % 
高效率、高反射率椭圆集光系统 
具备灯芯位置微调机构

单色仪

焦长 < 120 mm 
最小步进≦1 nm

自动杂光滤镜转轮

可装载6片杂光滤镜,手自动控制, 
抑制单色仪的杂散光。

波长范围

350 nm ~ 1100 nm (可扩充)

光能量校正

Si侦测器,BNC接口,附校正报告

单色光均光系统

光斑大小: 45 mm x 45 mm 
均匀度: 99% (10x10mm);  98% (20x20mm)

电流计

5-1/2 电流计 
< 1 pA (一般) 
电流计最小解析能力: 10 fA (电流计规格) 
BNC接口

控制系统

PC, LCD

标准控制软件

各波长光强度校正 
系统波长准确度校正功能 
单波长移动控制 
量子效率计算 
各硬件独立控制功能


选配
客制化影像模块样品座

依客户需求设计定制

CRA旋转平台(Chief Ray Angle)

360度旋转平台 
旋转平台控制器 
CRA量测软件


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