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  • <b>太阳能电池测试夹具</b>
    太阳能电池测试夹具

    Probe Stage HW-12 镀金探针(日本品牌) 四探针夹具,三维可调; 高平整镀金铜板,或黑色铝板; 真空吸附功能; 铜板/铝板:120mm120mm,180mm180mm, 其他尺寸可根据客户要求定制. OPV Kits OPV-1…

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  • <b>薄膜应力仪</b>
    薄膜应力仪

    世界顶级薄膜应力测量系统,又名薄膜应力计或薄膜应力仪!MOS美国专利技术!曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee! 采用非接触MOS激光技术;不但可以精确的对样品表面应力分布进行统…

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  • <b>薄膜热应力测量系统</b>
    薄膜热应力测量系统

    薄膜热应力测量系统(薄膜应力仪,薄膜应力计,薄膜应力测试仪),测量光学设计MOS传感器荣获美国专利!同时KSA公司荣获2008 Innovation of the Year Awardee! 该设备已经广泛被全球著名高…

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  • <b>原位薄膜应力仪</b>
    原位薄膜应力仪

    世界顶级原位薄膜应力测量系统,又名原位薄膜应力计或原位薄膜应力仪!MOS美国专利技术!曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee! 采用非接触激光MOS技术;不但可以精确的对样品表面应…

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  • <b>RHEED分析系统</b>
    RHEED分析系统

    全球最专业的RHEED分析系统(反射高能电子衍射能谱仪分析系统),适合各种RHEED系统和薄膜沉积系统(如:脉冲激光沉积设备PLD,溅射系统Sputtering,分子束外延MBE, 金属有机化学气象沉积M…

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  • <b>反射高能电子衍射仪 RHEED</b>
    反射高能电子衍射仪 RHEED

    仪器简介: Reflection High-Energy Electron Diffraction (RHEED) has become widely known as an essential method for real-time observation of crystal growth. RHEED can be used to analyze film surfaces in either a static mode for existing…

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  • <b>薄膜生长速率测试仪</b>
    薄膜生长速率测试仪

    精密薄膜沉积生长速率监控系统,采用无损的激光技术实时原位检测薄膜沉积速率、薄膜厚度以及光学常量(nk),可广泛的应用于金属有机化学气象沉积MOCVD、分子束外延MBE、溅射系统…

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  • <b>BandiT实时温度测试仪</b>
    BandiT实时温度测试仪

    kSA BandiT是一种非接触、实时谱带吸收式半导体晶片温度传感器。它采用谱带随温度变化的半导体材料,可以监测高温计所不能测量的晶片温度。 kSA BandiT成功地为MBE, MOCVD, Sputter, PLD等半导…

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  • <b>全息显微镜</b>
    全息显微镜

    革命性三维动态原位全息成像专利技术! 又名:数字全息显微镜、全息成像系统、三维全息显微镜; 应用:MEMS/MOEMS动态分析,微观光学,半导体,纳米材料,生物学,生物芯片,生物…

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