目前常规电滞回线测试设备在高压下测量电容能量密度存在的问题：待测样品上的电荷被放回到高压电源，而不是一个有效的负载。
问题主要表现为
• 对电源放电时速度很慢(10-100毫秒)，而实际上对负载放电一般在微秒到毫秒；
• 对电源放电时待测电压线形下降, 而对负载放电时电压是指数下降；
• 电滞回线测量过程中程序控制的实际是电源输出电压（假设样品电压与电源电压一样），样品能量放回到了高压电源；
• 对负载放电时如同自由落体，电压完全由样品性能，负载（阻抗），与其中接线而定。可以选择一个与应用相似的负载（成比例缩小）从而测得一个与应用相关的能量密度；
• 一般情况下由电滞回线测得的能量密度大于电容实际应用时能放出的能量密度，可能会误导用户；
为了解决以上存在的实际测试问题，PolyK公司开发了该测试仪器，主要用于研究电容的高电压放电性能，根据所选型号，电容样品可以在100皮法到100微法。
主要特点
• 本测试仪使用特殊高压开关，分别控制充放电过程，其中放电开关速度快，相应速度在纳秒量级；
• 使用高压无感电阻作为放电负载，放出的能量有示波器采集，并经过程序分析直接给出放电能量密度；
• 两种操作模式:
-手动控制：用户手动控制充放电开关；
-自动控制：计算机程序自动控制测试过程，并保存测试结果。尤其适合长期充放电寿命测试；
主要规格
• 测试电压: 10 kV (由所选高压开关决定)；
• 样品电容: < 100 pF to > 100 μF；
• 放电电流: < 15 A（放电开关型号决定）；
• 放电电阻: < 1Ω to > 1 MΩ；
• 放电速度: 高压MOSFET 开关, 放电速度< 100纳秒；
• 测试电流与电压的所用电源，样品大小与放电电阻综合决定；
• 设备选项：测试温度可以保存；
新加功能
• 测试介电压电材料的介电击穿强度：直流电击穿，在恒定直流电压击穿时间（耐压时间），交流击穿强度，在恒定交流电压击穿时间（耐压时间）；
• 能同时测试放电电流（在一定电流范围内）；
• 内置示波器；
• 许使用特定的电感/电阻组合，研究放电震荡；
• 允许反向电压/电流；
• 提供软硬件使得用户可以极化压电材料；
• 全新测试夹具；
• 定制低压充放电测试薄膜样品（100伏）。
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