美国PolyK Technologies公司基于改进优化的动态Sawyer-Tower电路开发的该系统，用于测量介电和铁电材料的电荷密度与电场及频率的关系。
系统特点
• 整合了系统保护电路：当试样在高压测试发生击穿时，可有效的保护测试系统；
• 配合Trek高压放大器执行测试时，高压>10kV,并且频率可达1000Hz, 可升级达300kHz；
• 高压击穿测试可在AC、DC或者Field endurance life模式下测试，而且只需简单的切换信号连接即可；
• 自动铁电性能测试直至介电击穿发生；
• 对于介电材料充放电测试，软件能自动给出充电能量密度和放电能量密度，以及充放电效率；
• 对于寿命循环测试（DC模式或者AC模式），系统会自动生成测试总结文件；
• 独特的夹具设计，确保即使测试软的高分子介电材料也不会损伤样品；
• 基于LabView设计的功能强大的软件系统，用户可方便地控制电压、信号波形（三角波、正弦波、Unipolar、Bipolar和Arbitrary）和频率；
技术规格
• 内置电压：±100V or ±200V放大器
• 电压放大器>10kV to 30kV
• 电荷：<1nC to >1mC(取决于放大器输出)
• 测试频率：0.01Hz to 1000Hz, or 10kHz, or 300kHz.
• 压电应变测量选件：Fotonic Sensor 10nm分辨率 或者磁电传感器；
• 高压变温测试选件：-184℃ to 250℃；
测试功能
• DHM测量：Dynamic Hysteresis measurement
• PM测量：PUND measurement
• SHM测量：Static hysteresis measurement
• FM测量：Fatigue measurement
• RM测量：Retention measurement
• IM测量：Imprint measurement
• 漏电流测量：Leakage Current measurement(可选)
• 热释电测量：Pyroelectric measurement（可选）
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