AM0 &AM1.5G A+ Glass 双灯太阳光模拟器/双灯太阳能模拟器,目前由日本SAN-EI公司开发,并且已交付AIST、中国计量科学研究院、南京大学、南开大学等使用;该设备光谱不匹配性<±10%,有效光谱范围300nm~1800nm。
主要应用
满足各种太阳能电池的测试,例如非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon,nc-Si,Microcrystalline Silicon,mc-Si)、半导体化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化镉)、CuInSe2]、染料敏化电池(DSSC)、有机导电高分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (铜铟硒化物)、钙钛矿太阳能电池、叠层太阳能电池测试等;
主要特点
• 匹配AAA Class标准;
• AM1.5G围:300nm~1800nm;
• 光谱不匹配度(IEC 60904-9 ): <±10%,class A+ ;
• 有效照射面积内光强不均匀度(IEC 60904-9 ): <2%,class A ;
• 光强稳定度(IEC 60904-9 ): 1%,class A ;
• 光源稳定输出寿命:1000小时;
• 有效照射面积:50mm×50mm~300mmX300mm;
• 扩展AM0光谱;
• 光强调节范围:±30%;
扩展功能
• 测试源表;
• 测试探针台;
• 标准电池reference Cell;
• 多路控制器;
• 温控测试台;
• IV测试软件:
*基本测量功能: 完整 I-V 曲线测量, 完整 P-V 曲线测量,短路电流 Isc 测量,开路电压 Voc 测量, 短路电流密度 Jsc 测量,峰值功率 Pmax 测量,峰值功率电流 Imp 测量,峰值功率电压 Vmp 测量,效率测量,填充因子 FF 测量,串联电阻 Rs 测量,并联电阻 Rsh 测量;
*Light光照条件下,太阳能电池IV 和PV曲线测量(包含Forward正向扫描和Reverse反向扫描测试功能);
*Light光照条件或Dark无光照条件下,太阳能电池I-V 和P-V曲线测量,I-t曲线和V-t曲线测量;
*Bias偏压或Steady State稳态测量功能(太阳能电池效率衰减测试功能);
*MPPT 追踪测试功能( Pmax 功率点随时间的变化);
*Repeatability 重复性测试功能。